| Additional title: |
Techniques for Characterising Materials |
| Additional title: |
Técnicas de Caracterización de Materiales |
| Date: |
2019-20 |
| Abstract: |
Aquest mòdul cobreix una part significativa de les principals tècniques de caracterització de materials i nanomaterials, sense pretendre cobrir la totalitat de les tècniques que s'utilitzen actualment. La majoria d'elles estan disponibles a les nostres instal·lacions de recerca (Esfera UAB-CEI), en les quals s'hi han previst diversos experiments i exemples pràctics com una part fonamental del curs. Les tècniques de microscòpia de sonda local i les espectroscòpies d'absorció de raigs X, no incloses en aquest mòdul, es tracten en els mòduls M15 i M12 respectivament. 1. |
| Abstract: |
Este módulo cubre una parte significativa de las principales técnicas de caracterización de materiales y nanomateriales, pero no pretende abarcar todas las técnicas utilizadas actualmente. La mayoría de ellas están disponibles en nuestras instalaciones de investigación (Esfera UAB-CIE). Varios experimentos de laboratorio y ejemplos prácticos están planeados como parte clave del curso. Las técnicas de microscopía de sonda local y las espectroscopias de absorción de rayos X, no incluidas en este módulo, se cubren en los módulos "Microscopías de sonda local" y "Espectroscopias con radiación de sincrotrón", respectivamente. 1. |
| Rights: |
Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, la comunicació pública de l'obra i la creació d'obres derivades, fins i tot amb finalitats comercials, sempre i quan es reconegui l'autoria de l'obra original.  |
| Language: |
Català, anglès, castellà |
| Studies: |
Nanociència i Nanotecnologia Avançades / Advanced Nanoscience and Nanotechnology [4314939] |
| Study plan: |
Màster Universitari en Nanociència i Nanotecnologia Avançades/ Advanced Nanoscience and Nanotechnology [1360] |
| Document: |
Objecte d'aprenentatge |
guest ::
