SPICE modeling of cycle-to-cycle variability in RRAM devices
Salvador Aguilera, Emili (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Bargallo Gonzalez, Mireia (Institut de Microelectrònica de Barcelona)
Campabadal, Francesca (Institut de Microelectrònica de Barcelona)
Martin Martinez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Miranda, Enrique (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)

Date:	2021
Abstract:	In this work, we investigated how to include uncorrelated cycle-to-cycle (C2C) variability in the LTSpice quasi-static memdiode model for RRAM devices. Variability in the I-V curves is first addressed through an in-depth study of the experimental data using the fitdistrplus package for the R language. This provides a first approximation to the identification of the most suitable model parameter distributions. Next, the selected candidate distributions are incorporated into the model script and used for carrying out Monte Carlo simulations. Finally, the experimental and simulated observables (set and reset currents, transition voltages, etc. ) are statistically compared and the model estimands recalculated if it is necessary. Here, we put special emphasis on describing the main difficulties behind this seemingly simple procedure.
Grants:	Ministerio de Ciencia e Innovación PID2019-103869RB-C32 Ministerio de Ciencia e Innovación TEC2017-84321-C4-1-R Ministerio de Ciencia e Innovación TEC2017-84321-C4-4-R
Note:	Altres ajuts: acords transformatius de la UAB
Rights:	Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, la comunicació pública de l'obra i la creació d'obres derivades, fins i tot amb finalitats comercials, sempre i quan es reconegui l'autoria de l'obra original.
Language:	Anglès
Document:	Article ; recerca ; Versió publicada
Subject:	RRAM ; Variability ; Modeling ; LTSpice ; Fitdistrplus
Published in:	Solid-state electronics, Vol. 185 (November 2021) , art. 108040, ISSN 0038-1101

DOI: 10.1016/j.sse.2021.108040

6 p, 6.4 MB

The record appears in these collections:
Articles > Research articles
Articles > Published articles