Melamine Faced Panels Defect Classification beyond the Visible Spectrum - Aguilera, Cristhian A. (Universidad Tecnológica de Chile) ; Aguilera, Cristhian A (Universidad del Bío-Bío (Concepción, Xile)) ; Sappa, Angel Domingo (Centre de Visió per Computador (Bellaterra, Catalunya))
 
Comentaris (0) | Ressenyes (0)
Enceteu un debat sobre qualsevol aspecte d'aquest document.

 Subscriure's to this discussion. You will then receive all new comments by email.

Afegeix un comentari


Un cop identificats, els usuaris autoritzats també hi poden adjuntar fitxers.
Vigileu: encara no heu definit el vostre àlies.
N/D s'usarà temporalment com a autor d'aquest comentari.
          You can use some HTML tags: <a href>, <strong>, <blockquote>, <br />, <p>, <em>, <ul>, <li>, <b>, <i>