Nanoscale imaging of buried topological defects with quantitative X-ray magnetic microscopy
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Blanco-Roldán, Cristina (Universidad de Oviedo. Centro de Investigación en Nanomateriales y Nanotecnología)
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Quirós, Carlos (Universidad de Oviedo. Centro de Investigación en Nanomateriales y Nanotecnología) ;
Sorrentino, A. (ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró) ;
Hierro-Rodríguez, A. (Universidade do Porto. Departamento de Física e Astronomia) ;
Álvarez-Prado, Luis Manuel (Universidad de Oviedo. Centro de Investigación en Nanomateriales y Nanotecnología) ;
Valcárcel, R. (ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró) ;
Duch, M. (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ;
Torras, Núria (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ;
Esteve, Jaume (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ;
Martín Carbajo, José Ignacio (Universidad de Oviedo. Centro de Investigación en Nanomateriales y Nanotecnología) ;
Vélez Fraga, María (Universidad de Oviedo. Centro de Investigación en Nanomateriales y Nanotecnología) ;
Alameda-Maestro, José María (Universidad de Oviedo. Centro de Investigación en Nanomateriales y Nanotecnología) ;
Pereiro, Eva (ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró) ;
Ferrer Fàbregas, Salvador (ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró)