Real-space image of charged patches in tunable-size nanocrystals
Martínez-Esaín, Jordi (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Química)
Pérez Rodríguez, Ana (Institut de Ciència de Materials de Barcelona)
Faraudo, Jordi (Institut de Ciència de Materials de Barcelona)
Barrena, Esther (Institut de Ciència de Materials de Barcelona)
Yáñez López, Ramón (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Química)
Ocal García, Carmen (Institut de Ciència de Materials de Barcelona)
Ricart, Susagna (Institut de Ciència de Materials de Barcelona)

Date:	2022
Abstract:	The remarkable dual nature of faceted-charge patchy metal fluoride nanocrystals arises from the spontaneous selective coordination of anionic and cationic ligands on the different facets of the nanocrystals. In previous studies, the identification and origin of the charge at the patches were obtained by combining computer simulations with indirect experimental evidence. Taking a step further, we report herein the first direct real-space identification by Kelvin probe force microscopy of the predicted faceted-charge patchy behavior, allowing the image of the dual faceted-charge surfaces. High-resolution transmission electron microscopy reveals the detailed nanocrystal faceting and allows unambiguously inferring the hydrophilic or hydrophobic role of each facet from the identification of the surface atoms exposed at the respective crystallographic planes. The success of the study lies in a foresighted synthesis methodology designed to tune the nanocrystal size to be suitable for microscopy studies and demanding applications.
Grants:	Agencia Estatal de Investigación CEX2019-000917-S Ministerio de Economía y Competitividad MAT2014-51778-C2-1-R Agencia Estatal de Investigación PID2019-110907GB-I00 European Commission 669504 European Commission 874964 Agència de Gestió d'Ajuts Universitaris i de Recerca 2014/SGR-753
Note:	This article belongs to the Special Issue Advanced Instrumentation for Materials Characterisation and Fabrication
Rights:	Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, la comunicació pública de l'obra i la creació d'obres derivades, fins i tot amb finalitats comercials, sempre i quan es reconegui l'autoria de l'obra original.
Language:	Anglès
Document:	Article ; recerca ; Versió publicada
Subject:	Patchy nanocrystals ; Charged patches ; HRTEM ; KPFM
Published in:	Materials, Vol. 15, Issue 4 (February 2022) , art. 1455, ISSN 1996-1944

DOI: 10.3390/ma15041455
PMID: 35207994

11 p, 2.8 MB

The record appears in these collections:
Articles > Research articles
Articles > Published articles