visitant ::
identificació
Dipòsit Digital de Documents de la UAB
Cerca
Lliura
Ajuda
Personalitza
Les vostres alertes
Els vostres cistells
Les vostres cerques
Servei de Biblioteques
Sobre el DDD
Català
English
Español
Pàgina inicial
>
Articles
>
Articles publicats
>
Reducing charge noise in quantum dots by using thin silicon quantum wells
>
Ressenyes
Informació:
Discussió (0)
Estadístiques d'ús
Reducing charge noise in quantum dots by using thin silicon quantum wells
-
Paquelet Wuetz, Brian
(Delft University of Technology)
;
Degli Esposti, Davide
(Delft University of Technology) ;
Zwerver, Anne-Marije J.
(Delft University of Technology) ;
Amitonov, Sergey V.
(QuTech and Netherlands Organisation for Applied Scientific Research) ;
Botifoll, Marc
(Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ;
Arbiol i Cobos, Jordi
(Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ;
Vandersypen, Lieven M. K.
(Delft University of Technology) ;
Russ, Maximilian
(Delft University of Technology) ;
Scappucci, Giordano
(Delft University of Technology)
Comentaris
(0) |
Ressenyes (0)
Sigueu el primer a escriure una ressenya d'aquest document.
Afegiu la vostra ressenya
Valoreu aquest article:
-Seleccioneu una puntuació-
***** (best)
****
***
**
* (worst)
Doneu un títol a la vostra ressenya:
Escriviu la vostra ressenya:
Vigileu: encara no heu
definit el vostre àlies
.
N/D
s'usarà temporalment com a autor d'aquest comentari.
Registres semblants