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1.
10 p, 2.9 MB On the aging of OTFTs and its impact on PUFs reliability / Porti i Pujal, Marc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Palau, Gerard (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Crespo Yepes, Albert (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Arnal Rus, August (FlexiIC SL.) ; Ogier, Simon (SmartKem Ltd.) ; Ramon, Eloi (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Given the current maturity of printed technologies, Organic Thin-Film Transistors (OTFT) still show high initial variability, which can be beneficial for its exploitation in security applications. In this work, the process-related variability and aging of commercial OTFTs have been characterized to evaluate the feasibility of OTFTs-based Physical Unclonable Functions (PUFs) implementation. [...]
Multidisciplinary Digital Publishing Institute (MDPI), 2024 - 10.3390/mi15040443
Micromachines, Vol. 15, issue 4 (April 2024) , art. 443  
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