Web of Science: 8 citas, Scopus: 8 citas, Google Scholar: citas
Non-homogeneuos conduction of conductive filaments in Ni/HfO2/Si resistive switching structures observed with CAFM
Claramunt, S. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Wu, Qian (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Maestro, M. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Porti i Pujal, Marc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
González, M.B. (Institut de Microelectrònica de Barcelona (CSIC))
Martín Martínez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Campabadal Segura, Francesca (Institut de Microelectrònica de Barcelona (CSIC))
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)

Fecha: 2015
Resumen: Conductive filaments (CFs) in Ni/HfO₂/Si resistive switching structures are analysed at the nanoscale by means of Conductive Atomic Force Microscopy (CAFM). Differences in the CF conductivity are measured depending on the resistive state of the device. Moreover, for both resistance states, non-homogeneous conduction across the CF area is observed, in agreement with a tree-shaped CF.
Nota: Número d'acord de subvenció MINECO/TEC2013-45638-C3-1-R
Nota: Número d'acord de subvenció ERDF/TEC2011-2792-C02-02
Nota: Número d'acord de subvenció AGAUR/2014/SGR-384
Derechos: Tots els drets reservats.
Lengua: Anglès.
Documento: article ; recerca ; acceptedVersion
Materia: Resistive switching ; CAFM ; Metal-insulator-semiconductor (MIS)
Publicado en: Microelectronic engineering, Vol. 147 (November 2015) , p. 335-338, ISSN 0167-9317

DOI: 10.1016/j.mee.2015.04.112


Post-print
4 p, 1.6 MB

El registro aparece en las colecciones:
Documentos de investigación > Documentos de los grupos de investigación de la UAB > Centros y grupos de investigación (producción científica) > Ingeniería > Grupo de Fiabilidad de Dispositivos y Circuitos Electrónicos (REDEC)
Artículos > Artículos de investigación
Artículos > Artículos publicados

 Registro creado el 2016-07-21, última modificación el 2019-02-02



   Favorit i Compartir