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Current-limiting and ultrafast system for the characterization of resistive random access memories
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Current-limiting and ultrafast system for the characterization of resistive random access memories
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Diaz-Fortuny, Javier
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
;
Maestro Izquierdo, Marcos
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Martin Martinez, Javier
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Crespo Yepes, Albert
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Rodríguez Martínez, Rosana
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Nafría i Maqueda, Montserrat
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Aymerich Humet, Xavier
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
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