guest ::
login
UAB Digital Repository of Documents
Search
Submit
Help
Personalize
Your alerts
Your baskets
Your searches
Library Service
About DDD
Català
English
Español
Home
>
Articles
>
Published articles
>
New high resolution random telegraph noise (RTN) characterization method for resistive RAM
>
Reviews
Information
Discussion (0)
Usage statistics
New high resolution random telegraph noise (RTN) characterization method for resistive RAM
-
Maestro Izquierdo, Marcos
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
;
Diaz-Fortuny, Javier
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Crespo Yepes, Albert
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
González, M. B.
(Institut de Microelectrònica de Barcelona) ;
Martin Martinez, Javier
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Rodríguez Martínez, Rosana
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Nafría i Maqueda, Montserrat
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Campabadal, Francesca
(Institut de Microelectrònica de Barcelona) ;
Aymerich Humet, Xavier
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Comments
(0) |
Reviews (0)
Be the first to review this document.
Add review
Rate this article:
-Select a score-
***** (best)
****
***
**
* (worst)
Give a title to your review:
Write your review:
Note: you have not
defined your nickname
.
N/D
will be displayed as the author of this comment.
Similar records