Study on the Connection Between the Set Transient in RRAMs and the Progressive Breakdown of Thin Oxides
-
Aguirre, Fernando Leonel (Universidad Tecnológica Nacional (Buenos Aires, Argentina))
;
Rodríguez Fernández, Alberto (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Pazos, Sebastián Matías (Universidad Tecnológica Nacional (Buenos Aires, Argentina)) ;
Suñé, Jordi, 1963- (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Miranda, Enrique (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Palumbo, Félix (Universidad Tecnológica Nacional (Buenos Aires, Argentina))