Pàgina inicial > Articles > Articles publicats > Stress-mediated solution deposition method to stabilize ferroelectric BiFe1-xCrxO3 perovskite thin films with narrow bandgaps > Comentaris
 
 
Stress-mediated solution deposition method to stabilize ferroelectric BiFe1-xCrxO3 perovskite thin films with narrow bandgaps - Jiménez-Zavala, Ricardo (Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid) ; Ricote, J. (Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid) ; Bretos, Iñigo (Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid) ; Jiménez Riobóo, Rafael J. (Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid) ; Mompean, Federico J. (Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid) ; Ruiz y Ruiz de Gopegui, Ana (Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid) ; Xie, Haibing (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Lira-Cantu, Monica (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Calzada, M. Lourdes (Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid)
 
Comentaris (0) | Ressenyes (0)
Enceteu un debat sobre qualsevol aspecte d'aquest document.

 Subscriure's to this discussion. You will then receive all new comments by email.

Afegeix un comentari


Un cop identificats, els usuaris autoritzats també hi poden adjuntar fitxers.
Vigileu: encara no heu definit el vostre àlies.
N/D s'usarà temporalment com a autor d'aquest comentari.
          You can use some HTML tags: <a href>, <strong>, <blockquote>, <br />, <p>, <em>, <ul>, <li>, <b>, <i>

Registres semblants

Dipòsit Digital de Documents de la UAB :: Cerca :: Lliura :: Personalitza :: Ajuda
Powered by Invenio v1.1.6
Mantingut per ddd.bib@uab.cat  :: Metadades subjectes a:
Col·laborem