|
|
|||||||||||||||
|
Cerca | Lliura | Ajuda | Servei de Biblioteques | Sobre el DDD | Català English Español | |||||||||
| Pàgina inicial > Articles > Articles publicats > Stress-mediated solution deposition method to stabilize ferroelectric BiFe1-xCrxO3 perovskite thin films with narrow bandgaps |
| Data: | 2021 |
| Resum: | Ferroelectric oxides with low bandgaps are mainly based on the BiFeO perovskite upon the partial substitution of iron with different cations. However, the structural stability of many of these perovskites is only possible by their processing at high pressures (HP,. |
| Ajuts: | Agencia Estatal de Investigación PID2019-104732RB-I00 Agencia Estatal de Investigación RTI2018-096918-B-C41 Ministerio de Economía y Competitividad MAT2017-91772-EXP Ministerio de Economía y Competitividad SEV-2017-0706 Ministerio de Economía y Competitividad CTQ2016-81911-REDT Agencia Estatal de Investigación MAT2016-76851-R Agencia Estatal de Investigación ENE2016-79282-C5-2-R Agència de Gestió d'Ajuts Universitaris i de Recerca 2017/SGR-329 |
| Drets: | Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, i la comunicació pública de l'obra, sempre que no sigui amb finalitats comercials, i sempre que es reconegui l'autoria de l'obra original. No es permet la creació d'obres derivades. |
| Llengua: | Anglès |
| Document: | Article ; recerca ; Versió acceptada per publicar |
| Matèria: | Thin film ; Bismuth ferrite ; Chemical solution deposition ; Ferroelectricity ; Bandgap |
| Publicat a: | Journal of the European Ceramic Society, Vol. 41, issue 6 (June 2021) , p. 3404-3415, ISSN 1873-619X |
Postprint 34 p, 2.2 MB |