Pàgina inicial > Articles > Articles publicats > Quantification of nanomechanical properties of surfaces by higher harmonic monitoring in amplitude modulated AFM imaging > Comentaris
 
 
Quantification of nanomechanical properties of surfaces by higher harmonic monitoring in amplitude modulated AFM imaging - Gramazio, Federico (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Lorenzoni, Matteo (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Pérez Murano, Francesc (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Evangelio Araujo, Laura (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Fraxedas, Jordi (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia)
 
Comentaris (0) | Ressenyes (0)
Enceteu un debat sobre qualsevol aspecte d'aquest document.

 Subscriure's to this discussion. You will then receive all new comments by email.

Afegeix un comentari


Un cop identificats, els usuaris autoritzats també hi poden adjuntar fitxers.
Vigileu: encara no heu definit el vostre àlies.
N/D s'usarà temporalment com a autor d'aquest comentari.
          You can use some HTML tags: <a href>, <strong>, <blockquote>, <br />, <p>, <em>, <ul>, <li>, <b>, <i>

Registres semblants

Dipòsit Digital de Documents de la UAB :: Cerca :: Lliura :: Personalitza :: Ajuda
Powered by Invenio v1.1.6
Mantingut per ddd.bib@uab.cat  :: Metadades subjectes a:
Col·laborem