Oxide Breakdown Spot Spatial Patterns as Fingerprints for Optical Physical Unclonable Functions
Porti i Pujal, Marc 
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Redon, Miquel (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Muñoz Gorriz, Jordi (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Miranda, Enrique Alberto (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
| Fecha: |
2023 |
| Resumen: |
Dielectric Breakdown (BD) of the gate oxide in a Metal-Insulator-Semiconductor (MIS) or Metal-Insulator-Metal (MIM) structure has been traditionally considered a major drawback since such event can seriously affect the electrical performance of the circuit containing the device. However, since BD is an inherently random process, when externally detectable by optical means, the phenomenon can be used to generate cryptographic keys for Physically Unclonable Functions (PUFs). This is the case discussed here. Images containing BD spot spatial distributions in MIM devices were binarized and their uniformity, uniqueness and reproducibility evaluated as fingerprints for security applications such as anti-counterfeiting purposes, secure identification and authentication of components. The obtained results are highly promising since it is demonstrated that the generated fingerprints meet all the mandatory requirements for PUFs, indicating that the proposed approach is potentially useful for this kind of applications. |
| Derechos: |
Aquest material està protegit per drets d'autor i/o drets afins. Podeu utilitzar aquest material en funció del que permet la legislació de drets d'autor i drets afins d'aplicació al vostre cas. Per a d'altres usos heu d'obtenir permís del(s) titular(s) de drets.  |
| Lengua: |
Anglès |
| Documento: |
Article ; recerca ; Versió acceptada per publicar |
| Materia: |
Capacitors ;
Cryptography ;
Dielectric Breakdown ;
Fingerprint recognition ;
Logic gates ;
MIM devices ;
Optical imaging ;
PUF ;
Reproducibility of results ;
Stress |
| Publicado en: |
IEEE electron device letters, Vol. 44, Issue 10 (October 2023) , p. 1600-1603, ISSN 1558-0563 |
DOI: 10.1109/LED.2023.3301974
El registro aparece en las colecciones:
Artículos >
Artículos de investigaciónArtículos >
Artículos publicados
Registro creado el 2023-10-03, última modificación el 2026-01-30
visitante ::
identificación
