Exploitation of OTFTs variability for PUFs implementation and impact of aging
Claramunt, Sergi ![ORCID Identifier](/img/uab/orcid.ico)
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Palau, Gerard (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Arnal Rus, August ![ORCID Identifier](/img/uab/orcid.ico)
(Institut de Microelectrònica de Barcelona)
Crespo Yepes, Albert ![ORCID Identifier](/img/uab/orcid.ico)
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Porti i Pujal, Marc ![ORCID Identifier](/img/uab/orcid.ico)
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Ogier, Simon ![ORCID Identifier](/img/uab/orcid.ico)
(SmartKem Ltd.)
Ramon, Eloi
(Institut de Microelectrònica de Barcelona)
Nafría i Maqueda, Montserrat
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Date: |
2023 |
Description: |
4 pàg. |
Abstract: |
Commercial Organic Thin Film Transistors (OTFT) have been characterized to evaluate their variability and reliability. The feasibility of implementing Physical Unclonable Functions (PUFs) based on these devices has been evaluated, taking advantage of the high variation in the electrical characteristics among different OTFTs. The eventual impact of device aging on PUFs reliability has been preliminary explored. |
Grants: |
Agencia Estatal de Investigación PID2019-103869RB-C32
|
Note: |
Altres ajuts: acords transformatius de la UAB |
Rights: |
Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, i la comunicació pública de l'obra, sempre que no sigui amb finalitats comercials, i sempre que es reconegui l'autoria de l'obra original. No es permet la creació d'obres derivades. ![Creative Commons](/img/licenses/by-nc-nd.ico) |
Language: |
Anglès |
Document: |
Article ; recerca ; Versió acceptada per publicar |
Subject: |
Aging ;
OTFT ;
PUF ;
Reliability ;
Variability |
Published in: |
Solid-state electronics, Vol. 207 (Sep. 2023) , art. 108698, ISSN 1879-2405 |
DOI: 10.1016/j.sse.2023.108698
Available from: 2025-09-30
Postprint
|
The record appears in these collections:
Articles >
Research articlesArticles >
Published articles
Record created 2023-10-10, last modified 2024-05-05