On the aging of OTFTs and its impact on PUFs reliability
Porti i Pujal, Marc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Palau, Gerard (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Crespo Yepes, Albert (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Arnal Rus, August (FlexiIC SL.)
Ogier, Simon (SmartKem Ltd.)
Ramon, Eloi (Institut de Microelectrònica de Barcelona)
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) [...] Mostra tots els 7 autors

Publicació:	Multidisciplinary Digital Publishing Institute (MDPI), 2024
Resum:	Given the current maturity of printed technologies, Organic Thin-Film Transistors (OTFT) still show high initial variability, which can be beneficial for its exploitation in security applications. In this work, the process-related variability and aging of commercial OTFTs have been characterized to evaluate the feasibility of OTFTs-based Physical Unclonable Functions (PUFs) implementation. For our devices, ID-based PUFs show good uniformity and uniqueness. However, PUFs' reliability could be compromised because of the observed transient and aging effects in the OTFTs, which could hinder the reproducibility of the generated fingerprints. A systematic study of the aging of OTFTs has been performed to evaluate the PUFs' reliability. Our results suggest that the observed transient and aging effects could be mitigated so that the OTFTs-based PUFs' reliability could be improved.
Ajuts:	Agencia Estatal de Investigación PID2022-136949OB-C22 Agencia Estatal de Investigación PID2019-103869RB-C32
Drets:	Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, la comunicació pública de l'obra i la creació d'obres derivades, fins i tot amb finalitats comercials, sempre i quan es reconegui l'autoria de l'obra original.
Llengua:	Anglès
Document:	Article ; recerca ; Versió publicada
Matèria:	OTFT ; Variability ; Reliability ; PUF ; Aging ; BTI ; HCI
Publicat a:	Micromachines, Vol. 15, issue 4 (April 2024) , art. 443, ISSN 2072-666X

DOI: 10.3390/mi15040443
PMID: 38675255

10 p, 2.9 MB

El registre apareix a les col·leccions:
Articles > Articles de recerca
Articles > Articles publicats