 visitant ::
identificació
|
|||||||||||||||
|
Cerca | Lliura | Ajuda | Servei de Biblioteques | Sobre el DDD | Català English Español | |||||||||
| Pàgina inicial > Documents de recerca > Treballs de recerca i projectes de final de carrera > Estudio de cerámicas nanoestructuradas mediante difracción de rayos X y microscopía electrónica de alta resolución |
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física)| Data: | 2009 |
| Descripció: | 78 p. |
| Resum: | Este proyecto trata sobre la determinación de las relaciones epitaxiales que se dan entre una capa de NGO (Oxido de Neodimio-Galio) y una capa depositada de CGO (Óxido de Cerio dopado con Gadolinio). Con ello buscamos estudiar indirectamente como podemos producir las dislocaciones antes citadas mediante la tensión superficial que se crea al dar lugar un crecimiento heteroepitaxial auto-ensamblado de nanohilos sobre un substrato. Para utilizar en el futuro esta cerámica nanoestructurada como plantillas de superconductores. Abordaremos este objetivo mediante dos vertientes distintas. Por un lado, mediante el estudio de una muestra mediante difracción de rayos X en dos dimensiones (DRX2). Y paralelamente mediante su visualización usando Microscopía Electrónica de Transmisión (MET). |
| Drets: | Aquest document està subjecte a una llicència d'ús de Creative Commons, amb la qual es permet copiar, distribuir i comunicar públicament l'obra sempre que se'n citin l'autor original, la universitat i l'escola i no se'n faci cap ús comercial ni obra derivada, tal com queda estipulat en la llicència d'ús  |
| Llengua: | Castellà |
| Titulació: | Ciència de Materials [5600169] |
| Col·lecció: | Escola d'Enginyeria. Projectes i treballs de final de carrera. Enginyeria de Materials |
| Document: | Treball final de grau |
| Matèria: | Superconductors d'alta temperatura ; Materials ; Raigs X ; Difracció |
