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11 p, 4.0 MB Flexible setup for the measurement of CMOS time-dependent variability with array-based integrated circuits / Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Martin Martinez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Diaz-Fortuny, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Saraza-Canflanca, Pablo (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Castro-Lopez, Rafael (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Roca, Elisenda (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Fernandez, Francisco V. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla)
This paper presents an innovative and automated measurement setup for the characterization of variability effects in CMOS transistors using array-based integrated circuits (ICs), through which a better understanding of CMOS reliability could be attained. [...]
2020 - 10.1109/TIM.2019.2906415
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Vol. 69, Issue 3 (March 2020) , p. 853-864  
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