visitante ::
identificación
|
|||||||||||||||
Buscar | Enviar | Ayuda | Servicio de Bibliotecas | Sobre el DDD | Català English Español |
Página principal > Artículos > Artículos publicados > New high resolution random telegraph noise (RTN) characterization method for resistive RAM |
Fecha: | 2016 |
Resumen: | Random Telegraph Noise (RTN) is one of the main reliability problems of resistive switching-based memories. To understand the physics behind RTN, a complete and accurate RTN characterization is required. The standard equipment used to analyse RTN has a typical time resolution of ∼2 ms which prevents evaluating fast phenomena. In this work, a new RTN measurement procedure, which increases the measurement time resolution to 2 μs, is proposed. The experimental set-up, together with the recently proposed Weighted Time Lag (W-LT) method for the analysis of RTN signals, allows obtaining a more detailed and precise information about the RTN phenomenon. |
Ayudas: | Ministerio de Economía y Competitividad TEC2011-27292-C02-02 Ministerio de Economía y Competitividad TEC2013-45638-C3-1-R Agència de Gestió d'Ajuts Universitaris i de Recerca 2014/SGR-384 |
Derechos: | Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, i la comunicació pública de l'obra, sempre que no sigui amb finalitats comercials, i sempre que es reconegui l'autoria de l'obra original. No es permet la creació d'obres derivades. |
Lengua: | Anglès |
Documento: | Article ; recerca ; Versió acceptada per publicar |
Materia: | Resistive switching ; Random telegraph noise ; Resolution ; Time constants ; RRAM |
Publicado en: | Solid-state electronics, Vol. 115, Part B (January 2016) , p. 140-145, ISSN 1879-2405 |
Post-print 17 p, 1.4 MB |