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New high resolution random telegraph noise (RTN) characterization method for resistive RAM
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New high resolution random telegraph noise (RTN) characterization method for resistive RAM
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Maestro Izquierdo, Marcos
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
;
Diaz-Fortuny, Javier
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Crespo Yepes, Albert
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
González, M. B.
(Institut de Microelectrònica de Barcelona) ;
Martin Martinez, Javier
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Rodríguez Martínez, Rosana
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Nafría i Maqueda, Montserrat
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Campabadal, Francesca
(Institut de Microelectrònica de Barcelona) ;
Aymerich Humet, Xavier
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
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