A systematic approach to RTN parameter fitting based on the Maximum Current Fluctuation

Information
Discussion (0)
Usage statistics

A systematic approach to RTN parameter fitting based on the Maximum Current Fluctuation - Saraza-Canflanca, P. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Martin Martinez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Roca, E. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Castro-Lopez, R. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Fernandez, F. V. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla)

Comments (0) | Reviews (0)

Be the first to review this document.

Add review

Rate this article:

Give a title to your review:

Write your review:

Note: you have not defined your nickname.
N/D will be displayed as the author of this comment.

Similar records