Feasibility of Physical Unclonable Functions from Pre-stressed Organic Thin Film Transistors for Secure Microelectronics
Baghban-Bousari, N. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Eric, Deborah (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Palau, Gerard (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Crespo Yepes, Albert (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Porti i Pujal, Marc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Ramon, Eloi (Institut de Microelectrònica de Barcelona)
Ogier, S. (SmartKem Ltd.)
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)

Date:	2026
Abstract:	Pre-stressed commercial Organic Thin Film Transistors (OTFT) have been characterized to evaluate their suitability for Physical Unclonable Functions (PUFs) implementation, when the variability of the drain current (ID) is used as entropy source. Different kinds of electrical pre-stresses have been considered, to study their impact on the PUF reproducibility. Uniqueness and Uniformity of the resulting PUFs have also been evaluated. The proposed pre-stressed OTFTs based PUFs show a reproducibility up to 0. 99, with a uniformity and uniqueness of 0. 52 and 0. 50, respectively.
Grants:	Agencia Estatal de Investigación PID2022-136949OB-C22 Agència de Gestió d'Ajuts Universitaris i de Recerca 2021/SGR-00199
Note:	Altres ajuts: acords transformatius de la UAB
Rights:	Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, la comunicació pública de l'obra i la creació d'obres derivades, fins i tot amb finalitats comercials, sempre i quan es reconegui l'autoria de l'obra original.
Language:	Anglès
Document:	Article ; recerca ; Versió publicada
Subject:	OTFT ; PUF ; Reliability ; Uniformity ; Uniqueness
Published in:	Microelectronic engineering, Vol. 302 (January 2026) , art. 112407, ISSN 0167-9317

DOI: 10.1016/j.mee.2025.112407

5 p, 2.6 MB

The record appears in these collections:
Articles > Research articles
Articles > Published articles