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8 p, 666.7 KB Statistical characterization of time-dependent variability defects using the maximum current fluctuation / Saraza-Canflanca, Pablo (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Martin Martinez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Castro-Lopez, Rafael (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Roca, Elisenda (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Fernandez, Francisco V. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
This article presents a new methodology to extract, at a given operation condition, the statistical distribution of the number of active defects that contribute to the observed device time-dependent variability, as well as their amplitude distribution. [...]
2021 - 10.1109/ted.2021.3086448
IEEE Transactions on Electron Devices, Vol. 68, issue 8 (Aug. 2021) , p. 4039-4044  
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