Correlation between the nanoscale electrical and morphological properties of crystallized hafnium oxide-based metal oxide semiconductor structures
Iglesias Santiso, Vanessa (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Porti i Pujal, Marc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Aymerich Humet, Xavier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Dudek, P. (Innovations for High Performance Microelectronics (Frankfurt, Alemanya))
Schroeder, T. (Innovations for High Performance Microelectronics (Frankfurt, Alemanya))
Bersuker, G. (SEMATECH (Austin, Estats Units d'Amèrica))
American Physical Society
Data: |
2010 |
Resum: |
The relationship between electrical and structuralcharacteristics of polycrystalline HfO2films has been investigated by conductive atomic force microscopy under ultrahigh vacuum conditions. The results demonstrate that highly conductive and breakdown (BD) sites are concentrated mainly at the grain boundaries (GBs). Higher conductivity at the GBs is found to be related to their intrinsic electrical properties, while the positions of the electrical stress-induced BD sites correlate to the local thinning of the dielectric. The results indicate that variations in the local characteristics of the high-k film caused by its crystallization may have a strong impact on the electrical characteristics of high-k dielectric stacks. |
Drets: |
Tots els drets reservats. |
Llengua: |
Anglès |
Document: |
Article ; recerca ; Versió publicada |
Matèria: |
Dielectric thin films ;
Electrical properties ;
Leakage currents ;
Crystallization ;
Electric currents ;
Grain boundaries |
Publicat a: |
Applied physics letters, Vol. 97, Issue 26 (December 2010) , p. 262906/1-262906/3, ISSN 1077-3118 |
DOI: 10.1063/1.3533257
El registre apareix a les col·leccions:
Documents de recerca >
Documents dels grups de recerca de la UAB >
Centres i grups de recerca (producció científica) >
Enginyeries >
Grup de Fiabilitat de Dispositius i Circuits Electrònics (REDEC) Articles >
Articles de recercaArticles >
Articles publicats
Registre creat el 2014-02-18, darrera modificació el 2022-11-02