guest ::
login
UAB Digital Repository of Documents
Search
Submit
Help
Personalize
Your alerts
Your baskets
Your searches
Library Service
About DDD
Català
English
Español
Home
>
Research literature
>
Doctoral theses
>
Estudio de la reversibilidad de la ruptura dieléctrica en dispositivos MOS con dieléctrico de puerta high-k ultra delgado
>
Comments
Information
Discussion (0)
Usage statistics
Estudio de la reversibilidad de la ruptura dieléctrica en dispositivos MOS con dieléctrico de puerta high-k ultra delgado
-
Crespo Yepes, Albert
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
;
Rodríguez Martínez, Rosana,
dir. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Martin Martinez, Javier,
dir. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Universitat Autònoma de Barcelona.
Departament d'Enginyeria Electrònica
Comments (0)
|
Reviews
(0)
Start a discussion about any aspect of this document.
Subscribe
to this discussion. You will then receive all new comments by email.
Add comment
Once logged in, authorized users can also attach files.
Note: you have not
defined your nickname
.
N/D
will be displayed as the author of this comment.
You can use some HTML tags: <a href>, <strong>, <blockquote>, <br />, <p>, <em>, <ul>, <li>, <b>, <i>
Send me an email when a new comment is posted
Similar records