Conductance of threading dislocations in InGaAs/Si stacks by temperature-CAFM measurements
-
Couso, Carlos (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
;
Iglesias, V. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Porti i Pujal, Marc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Claramunt, Sergi (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Domingo Marimon, Neus (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ;
Cordes, A. (SEMATECH, United States) ;
Bersuker, G. (The Aerospace Corporation, United States)