A systematic approach to RTN parameter fitting based on the Maximum Current Fluctuation
Saraza-Canflanca, P. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla)
Martin Martinez, Javier ![Identificador ORCID](/img/uab/orcid.ico)
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Roca, E. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla)
Castro-Lopez, R. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla)
Rodríguez Martínez, Rosana ![Identificador ORCID](/img/uab/orcid.ico)
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Nafría i Maqueda, Montserrat ![Identificador ORCID](/img/uab/orcid.ico)
(Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Fernandez, F. V. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla)
Data: |
2022 |
Resum: |
This paper addresses the automated parameter extraction of Random Telegraph Noise (RTN) models in nanoscale field-effect transistors. Unlike conventional approaches based on complex extraction of current levels and timing of trapping/de-Trapping events from individual defects in current traces, the proposed approach performs a simple processing of current traces. A smart optimization problem formulation allows getting distribution functions of the amplitude of the current shifts and of the number of active defects vs. Time. |
Ajuts: |
Agencia Estatal de Investigación PID2019-103869RB-C31 Agencia Estatal de Investigación PID2019-103869RB-C32
|
Nota: |
Altres ajuts: grant US-1380876 funded by Consejería de Economía, Conocimiento, Empresas y Universidad de la Junta de Andalucía |
Drets: |
Tots els drets reservats. ![](/img/licenses/InC.ico) |
Llengua: |
Anglès |
Document: |
Capítol de llibre ; recerca ; Versió acceptada per publicar |
Matèria: |
Modeling characterization ;
RTN ;
Time-dependent variability |
Publicat a: |
18th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), 2022, ISBN 978-1-6654-6703-2 |
DOI: 10.1109/SMACD55068.2022.9816234
El registre apareix a les col·leccions:
Documents de recerca >
Documents dels grups de recerca de la UAB >
Centres i grups de recerca (producció científica) >
Enginyeries >
Grup de Fiabilitat de Dispositius i Circuits Electrònics (REDEC) Llibres i col·leccions >
Capítols de llibres
Registre creat el 2024-04-24, darrera modificació el 2024-07-05