New weighted time lag method for the analysis of random telegraph signals
Martin Martinez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Diaz-Fortuny, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Aymerich Humet, Xavier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)

Data:	2014
Resum:	A new method for the characterization of random telegraph signals (RTSs) is presented. The method, which is based on the time lag plot, is illustrated using Monte Carlo generated RTS traces and applied to identify the contribution of defects in multilevel RTS measured in a pMOS transistor. The results show that the new method provides a powerful and easily implementable technique to obtain the parameters of the defects responsible of multilevel RTS, even when the background noise is relevant. © 1980-2012 IEEE.
Drets:	Aquest material està protegit per drets d'autor i/o drets afins. Podeu utilitzar aquest material en funció del que permet la legislació de drets d'autor i drets afins d'aplicació al vostre cas. Per a d'altres usos heu d'obtenir permís del(s) titular(s) de drets.
Llengua:	Anglès
Document:	Article ; recerca ; Versió acceptada per publicar
Matèria:	Characterization ; CMOS ; Noise ; Parameter extraction ; Random telegraph signals
Publicat a:	IEEE electron device letters, Vol. 35, Num. 4 (March 2014) , p. 479-481, ISSN 1558-0563

DOI: 10.1109/LED.2014.2304673

Postprint 3 p, 341.4 KB

El registre apareix a les col·leccions:
Articles > Articles de recerca
Articles > Articles publicats