Measuring electrical current during scanning probe oxidation - Pérez Murano, Francesc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Martín Olmos, Cristina (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Kuramochi, H. (Nanotechnology Research Institute (Ibaraki, Japó)) ; Yokoyama, H. (Nanotechnology Research Institute (Ibaraki, Japó)) ; Dagata, J. A. (National Institute of Standards and Technology (Gaithersburg, Estats Units d'Amèrica)) ; American Physical Society