El repte de la fiabilitat als semiconductors
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)

Títol variant:	El reto de la fiabilidad en los semiconductores
Data:	2024
Resum:	Montserrat Nafría, Catedràtica del Departament d'Enginyeria Electrònica, resumeix en aquest article la importància de la metodologia del "Disseny per a la Fiabilitat" en el disseny i fabricació dels circuits integrats, els xips, en la que la col·laboració entre l'acadèmia i la indústria jugarà un paper fonamental.
Resum:	Montserrat Nafría, Catedrática del Departamento de Ingeniería Electrónica, resume en este artículo la importancia de la metodología del "Diseño para la Fiabilidad" en el diseño y fabricación de los circuitos integrados, los chips, en la que la colaboración entre la academia y la industria jugará un papel fundamental.
Nota:	Traducció de l'article original, publicat a "El Español": https://www.elespanol.com/invertia/disruptores/opinion/20240928/reto-fiabilidad-semiconductores/888781119_12.html
Drets:	Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, la comunicació pública de l'obra i la creació d'obres derivades, sempre que no sigui amb finalitats comercials, i sempre que es reconegui l'autoria de l'obra original.
Llengua:	Català i Castellà
Document:	Article ; divulgació ; Versió publicada
Publicat a:	UAB divulga, Desembre 2024, p. 1-2, ISSN 2014-6388

Català 3 p, 355.0 KB

Español 3 p, 355.3 KB

El registre apareix a les col·leccions:
Articles > Articles publicats > UAB Divulga
Articles > Articles de divulgació