|
1.
|
|
5 p, 488.6 KB |
A systematic approach to RTN parameter fitting based on the Maximum Current Fluctuation
/
Saraza-Canflanca, P. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Martin Martinez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Roca, E. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Castro-Lopez, R. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Fernandez, F. V. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla)
This paper addresses the automated parameter extraction of Random Telegraph Noise (RTN) models in nanoscale field-effect transistors. Unlike conventional approaches based on complex extraction of current levels and timing of trapping/de-Trapping events from individual defects in current traces, the proposed approach performs a simple processing of current traces. [...]
2022 -  10.1109/SMACD55068.2022.9816234
International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD). Villasimius, Italy, 18th : 2022
|
|
|
2.
|
|
|
Strategies for parameter extraction of the time constant distribution of time-dependent variability models for nanometer-scale devices
/
Fernandez, F. V. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Roca, E. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Saraza, P. (Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum (Belgium)) ;
Martin Martinez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Castro-Lopez, R. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla)
Time-dependent variability phenomena are stochastic and discrete for nanometer-scale technologies, and, hence, must be statistically characterized. These phenomena are attributed to the emission and capture of charges in device defects. [...]
2023 - 10.1109/SMACD58065.2023.10192206
International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD). Funchal, Portugal, 19th : 2023
|
|
|
3.
|
|
|
Challenges and solutions to the defect-centric modeling and circuit simulation of time-dependent variability
/
Martin Martinez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Diaz-Fortuny, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Saraza-Canflanca, Pablo (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Castro-Lopez, Rafael (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Roca, Elisenda (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Fernandez, Francisco V. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Time-Dependent Variability (TDV) phenomena represent a serious concern for device and circuit reliability. To address the TDV impact at circuit level, Reliability-Aware Design (RAD) tools can be used by circuit designers to achieve more reliable circuits. [...]
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 2023 - 10.1109/irps48203.2023.10118334
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Proceedings
|
|
|
4.
|
|
5 p, 667.4 KB |
Circuit reliability prediction : challenges and solutions for the device time-dependent variability characterization roadblock
/
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Diaz-Fortuny, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Saraza-Canflanca, Pablo (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Martin Martinez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Roca, Elisenda (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Castro-Lopez, Rafael (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Martin-Lloret, Pablo (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Toro-Frias, Antonio (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Mateo, Diego (Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Barajas, Enrique (Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Aragones, Xavier (Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Fernandez, Francisco V. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla)
The characterization of the MOSFET Time-Dependent Variability (TDV) can be a showstopper for reliability-aware circuit design in advanced CMOS nodes. In this work, a complete MOSFET characterization flow is presented, in the context of a physics-based TDV compact model, that addresses the main TDV characterization challenges for accurate circuit reliability prediction at design time. [...]
Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2021 - 10.1109/laedc51812.2021.9437920
2021 IEEE Latin America Electron Devices Conference, (2021), p. 1-4
|
|
|
5.
|
|
5 p, 2.0 MB |
Simulating the impact of random telegraph noise on integrated circuits
/
Saraza-Canflanca, Pablo (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Camacho-Ruiz, Eros (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Castro-Lopez, Rafael (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Roca, Elisenda (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Martin Martinez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Fernandez, Francisco V. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla)
This paper addresses the statistical simulation of integrated circuits affected by Random Telegraph Noise (RTN). For that, the statistical distributions of the parameters of a defect-centric model for RTN are experimentally determined from a purposely designed integrated circuit with CMOS transistor arrays. [...]
VDE Verlag GmbH, 2021
SSMACD / PRIME 2021; International Conference on SMACD and 16th Conference on PRIME, (2021), p. 1-4
|
|
|
6.
|
|
12 p, 3.3 MB |
Spanish cohort of VEXAS syndrome : clinical manifestations, outcome of treatments and novel evidences about UBA1 mosaicism
/
Mascaro, Jose Manuel (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Rodriguez-Pinto, Ignasi (Hospital Universitari MútuaTerrassa) ;
Poza, Gabriela (Hospital Universitario Virgen de la Arrixaca) ;
Mensa-Vilaro, Anna (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Fernández-Martín, Julián (Hospital Álvaro Cunqueiro) ;
Caminal-Montero, Luis (Instituto de Investigación Sanitaria del Principado de Asturias) ;
Espinosa, Gerard (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Hernández Rodríguez, José (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Diaz, Marina (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Rita-Marques, Joana (Hospital Universitari Vall d'Hebron) ;
Sanmartí, Raimon (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Castañeda, Santos (Universidad Autónoma de Madrid) ;
Colunga, Dolores (Hospital Universitario Central de Asturias) ;
Coto-Hernández, Rubén (Instituto de Investigación Sanitaria del Principado de Asturias) ;
Fanlo, Patricia (Hospital Universitario de Navarra) ;
Elejalde, Jose Ignacio (Hospital Universitario de Navarra) ;
Segundo, Bujan (Hospital Universitari Vall d'Hebron) ;
Figueras, Ignasi (Hospital Universitari de Bellvitge) ;
Marco, Francisco Manuel (Hospital General Universitario de Alicante Dr Balmis) ;
Andrés, Mariano (Universidad Miguel Hernández de Elche) ;
Suárez, Silvia (Hospital Valle del Nalón) ;
Gonzalez-Garcia, Andres (Hospital Universitario Ramón y Cajal) ;
Fustà-Novell, Xavier (Fundació Althaia de Manresa) ;
Garcia-Belando, Clara (Hospital Universitario Virgen de la Arrixaca) ;
Granados-Maturano, Ana (Parc Taulí Hospital Universitari. Institut d'Investigació i Innovació Parc Taulí (I3PT)) ;
Fernandez Figueras, Maria Teresa (Hospital Universitari General de Catalunya) ;
Quilis, Neus (Hospital Universitari de Vinalopo) ;
Orriols-Caba, Maria (Hospital comarcal Alt Penedès) ;
Gómez de la Torre, Ricardo (Hospital Universitario Central de Asturias) ;
Cid, María Cinta (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Espígol-Frigolé, Georgina (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Alvarez-Abella, Alba (Hospital Universitari MútuaTerrassa) ;
Labrador, Eztizen (Hospital San Pedro) ;
Rozman, Maria (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Lopez-Guerra, Monica (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Castillo, Paola (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Alamo-Moreno, Jose R (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Gonzalez-Roca, Eva (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Plaza, Susana (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Fabregat, Virginia (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Lara, Rocio (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Vicente-Rabaneda, Esther F (Universidad Autónoma de Madrid) ;
Tejedor Vaquero, Sonia (Institut Hospital del Mar d'Investigacions Mèdiques) ;
Magri, Giuliana (Institut Hospital del Mar d'Investigacions Mèdiques) ;
Bonet, Nuria (Universitat Pompeu Fabra) ;
Solis-Moruno, Manuel (Universitat Pompeu Fabra) ;
Cerutti, Andrea (Institut Hospital del Mar d'Investigacions Mèdiques) ;
Fornas, Òscar (Universitat Pompeu Fabra) ;
Casals, Ferran (Universitat de Barcelona) ;
Yagüe, Jordi (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Aróstegui, Juan Ignacio (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Universitat Autònoma de Barcelona
The vacuoles, E1-enzyme, X linked, autoinflammatory and somatic (VEXAS) syndrome is an adult-onset autoinflammatory disease (AID) due to postzygotic UBA1 variants. To investigate the presence of VEXAS syndrome among patients with adult-onset undiagnosed AID. [...]
2023 - 10.1136/ard-2023-224460
Annals of the rheumatic diseases, Vol. 82 (september 2023) , p. 1594-1605
|
|
|
7.
|
|
|
Determination of the time constant distribution of a defect-centric time-dependent variability model for Sub-100-nm FETs
/
Saraza-Canflanca, Pablo (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Castro-Lopez, Rafael (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Roca, Elisenda (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Martin Martinez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Fernandez, Francisco V. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla)
The origin of some time-dependent variability phenomena in FET technologies has been attributed to the charge carrier trapping/detrapping activity of individual defects present in devices. Although some models have been presented to describe these phenomena from the so-called defect-centric perspective, limited attention has been paid to the complex process that goes from the experimental data of the phenomena up to the final construction of the model and all its components, specifically the one that pertains to the time constant distribution. [...]
2022 - 10.1109/TED.2022.3198383
IEEE Transactions on Electron Devices, Vol. 69, issue 10 (Oct. 2022) , p. 5424-5429
|
|
|
8.
|
|
|
On the impact of the biasing history on the characterization of random telegraph noise
/
Saraza-Canflanca, Pablo (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Castro-Lopez, Rafael (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Roca, Elisenda (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ;
Martin Martinez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Fernandez, Francisco V. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla)
Random telegraph noise (RTN) is a time-dependent variability phenomenon that has gained increased attention during the last years, especially in deeply scaled technologies. In particular, there is a wide variety of works presenting different techniques designed to analyze current traces in scaled FET devices displaying RTN, and others focused on modeling the phenomenon using the parameters extracted through such techniques. [...]
2022 - 10.1109/TIM.2022.3166195
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Vol. 71 (2022) , art. 2003410
|
|
|
9.
|
|
27 p, 376.6 KB |
Promoviendo Admiración hacia Foucault Ocultando su Defensa de la Violación y la Pederastia
/
Valls, Rosa (Universitat de Barcelona) ;
Racionero-Plaza, Sandra (Universitat de Barcelona) ;
Elboj Saso, Carmen (Universidad de Zaragoza) ;
Vidu, Ana (University of California, Berkeley (UC)) ;
Serradell Pumareda, Olga (Universitat Autònoma de Barcelona) ;
Roca, Esther (University of Valencia) ;
Diez-Palomar, Javier (Universitat de Barcelona) ;
Joanpere, Mar (Universitat Rovira i Virgili) ;
Aiello-Cabrera, Emilia (Harvard Kennedy School) ;
De Aguileta, Ane López (Superior Conservatory of Music of Aragon)
Foucault ha sido citado como un gran contribuyente intelectual al feminismo y a la educación, a pesar de defender la despenalización de la violación y la pederastia. Desde el MeToo hay una creciente crítica a la persona y obras de Foucault. [...]
Foucault has been quoted as a great intellectual contributor to feminism and education, despite his defense of decriminalizing rape and pederasty. Since the MeToo movement, there is an increasing criticism of Foucault's persona and works. [...]
2022 - 10.17583/rimcis.9560
RIMCIS : International and Multidisciplinary Journal of Social Sciences, Vol. 11 Núm. 1 (2022) , p. 1-26
|
|
|
10.
|
|
13 p, 3.2 MB |
Homozygous R136S mutation in PRNP gene causes inherited early onset prion disease
/
Ximelis, Teresa (Institut d'Investigacions Biomèdiques August Pi i Sunyer) ;
Marín-Moreno, Alba (Centro de Investigación en Sanidad Animal (CISA-INIA-CSIC)) ;
Espinosa, J. C. (Centro de Investigación en Sanidad Animal (CISA-INIA-CSIC)) ;
Eraña, Hasier (Center for Cooperative Research in Biosciences (CIC bioGUNE). Basque Research and Technology Alliance (BRTA)) ;
Charco, Jorge M. (Center for Cooperative Research in Biosciences (CIC bioGUNE). Basque Research and Technology Alliance (BRTA)) ;
Hernández, Isabel (Ace Alzheimer Center Barcelona) ;
Riveira, Carmen (Neurology Service. Hospital de León) ;
Alcolea, Daniel (Institut d'Investigació Biomèdica Sant Pau) ;
González-Roca, Eva (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Aldecoa, Iban (Hospital Clínic i Provincial de Barcelona) ;
Molina-Porcel, Laura (Institut d'Investigacions Biomèdiques August Pi i Sunyer) ;
Parchi, Piero (IRCCS. Istituto delle Scienze Neurologiche di Bologna) ;
Rossi, Marcello (IRCCS. Istituto delle Scienze Neurologiche di Bologna) ;
Castilla, Joaquín (IKERBasque Basque Foundation for Science) ;
Ruiz-García, Raquel (Institut d'Investigacions Biomèdiques August Pi i Sunyer) ;
Gelpi, Ellen (Medical University of Vienna) ;
Torres, Juan María (Centro de Investigación en Sanidad Animal (CISA-INIA-CSIC)) ;
Sanchez-Valle, Raquel (Institut d'Investigacions Biomèdiques August Pi i Sunyer) ;
Universitat Autònoma de Barcelona
Background: More than 40 pathogenic heterozygous PRNP mutations causing inherited prion diseases have been identified to date. Recessive inherited prion disease has not been described to date. Methods: We describe the clinical and neuropathological data of inherited early-onset prion disease caused by the rare PRNP homozygous mutation R136S. [...]
2021 - 10.1186/s13195-021-00912-6
Alzheimer's research & therapy, Vol. 13 Núm. 1 (december 2021) , p. 176
|
|
visitant ::
identificació
alerta personal via correu electrònic o subscribiu-vos al 
canal RSS.
